EMC（Electromagnetic Compatibility，電磁兼容性）電磁兼容是指電子設(shè)備在電磁環(huán)境中能夠正常工作而不產(chǎn)生不良影響或不受其他設(shè)備干擾的能力。國(guó)際上有專(zhuān)業(yè)針對(duì)輻射測(cè)試的法律法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，例如，國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)Cispr 32、歐洲的EN 55032、美國(guó)的FCC Part 15B、中國(guó)的GB 9254.1、日本的VCCI等，都是評(píng)估電子電器產(chǎn)品對(duì)環(huán)境的電磁干擾問(wèn)題。

輻射近場(chǎng)測(cè)試和輻射遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試是電磁兼容性（EMC）測(cè)試中用于評(píng)估電子設(shè)備電磁輻射特性的兩種方法。它們的差異主要在于測(cè)試距離、測(cè)量方式和應(yīng)用領(lǐng)域：

輻射近場(chǎng)測(cè)試：
這種測(cè)試涉及在設(shè)備周?chē)妮^近距離內(nèi)測(cè)量電磁場(chǎng)。近場(chǎng)測(cè)試通常針對(duì)距離設(shè)備較近的范圍進(jìn)行測(cè)量，用于確定設(shè)備在近距離內(nèi)的電磁場(chǎng)分布和輻射特性。通過(guò)近場(chǎng)測(cè)試，可以識(shí)別設(shè)備內(nèi)部可能存在的電磁問(wèn)題，并定位需要改進(jìn)的區(qū)域。在近場(chǎng)范圍內(nèi)，電磁場(chǎng)可能呈現(xiàn)復(fù)雜的分布模式，這些模式可以提供更詳細(xì)的信息，有助于解決設(shè)備的電磁兼容性問(wèn)題。

輻射遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試：
相反，輻射遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試是在設(shè)備遠(yuǎn)離測(cè)試儀器的地方進(jìn)行的測(cè)試，通常在設(shè)備產(chǎn)生的電磁輻射傳播到遠(yuǎn)離設(shè)備的區(qū)域時(shí)進(jìn)行。遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試的主要目的是評(píng)估設(shè)備在較遠(yuǎn)距離處產(chǎn)生的電磁輻射情況，以確認(rèn)其是否會(huì)對(duì)其他設(shè)備或系統(tǒng)產(chǎn)生干擾。這種測(cè)試能夠評(píng)估設(shè)備對(duì)遠(yuǎn)處環(huán)境的影響，以及其在大范圍內(nèi)的輻射特性。

差異點(diǎn)：
測(cè)試距離和范圍： 近場(chǎng)測(cè)試通常在設(shè)備周?chē)^近的范圍內(nèi)進(jìn)行，而遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試則是在設(shè)備遠(yuǎn)離測(cè)試設(shè)備的地方進(jìn)行。

波阻抗和波長(zhǎng)： 波阻抗和波長(zhǎng)通常隨著距離的變化而變化。在近場(chǎng)測(cè)試中，由于距離相對(duì)較近，電磁波的波長(zhǎng)可能與遠(yuǎn)場(chǎng)相比較短，而波阻抗可能受到設(shè)備和測(cè)試環(huán)境的影響。

分析和解釋?zhuān)?/span>
近場(chǎng)測(cè)試提供了更詳細(xì)的電磁場(chǎng)信息，有助于識(shí)別設(shè)備內(nèi)部的電磁問(wèn)題。遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試更關(guān)注較遠(yuǎn)距離處的電磁輻射特性，對(duì)設(shè)備的環(huán)境影響進(jìn)行評(píng)估，因此需要不同的分析和解釋方法。

在emc測(cè)試中，這兩種測(cè)試方法通常結(jié)合使用，以全面評(píng)估設(shè)備的電磁兼容性，從而確保其在實(shí)際應(yīng)用中不會(huì)干擾其他設(shè)備或受到外部干擾的影響。

實(shí)際工程中，我們?yōu)榱嗽u(píng)估設(shè)備的電磁兼容性，是需要進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是10m法電波暗室、3m法電波暗室測(cè)試，通常標(biāo)準(zhǔn)會(huì)同時(shí)給出這2個(gè)測(cè)試距離的的測(cè)試限值，他們之間通常是差異10dB。10m法的測(cè)試數(shù)據(jù)與3m法暗室的測(cè)試距離的限值也是可以自由轉(zhuǎn)換的。

如下圖所示，在電波暗室里面的測(cè)試我們測(cè)試通常是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試，例如，我們通常測(cè)試輻射發(fā)射頻率為30MHz~1000MHz，這個(gè)波長(zhǎng)就是10m，所以標(biāo)準(zhǔn)里面通常優(yōu)先給出10m法電波暗室測(cè)試限值，包括現(xiàn)在很多大廠都是需要10m法電波暗室測(cè)試。

輻射測(cè)試10m法 - 電波暗室

另外，實(shí)際工程中，3m法電波暗室確實(shí)普遍，因?yàn)椋绹?guó)FCC、國(guó)內(nèi)的CCC等都是用3m法電波暗室測(cè)試就可以了，特別是標(biāo)準(zhǔn)里面確實(shí)也是給出了3m限值。只要符合了這個(gè)3m法，那就是符合標(biāo)準(zhǔn)的法律法規(guī)了。

輻射測(cè)試 3m法 - 電波暗室

輻射測(cè)試-遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)

輻射測(cè)試-近場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)

輻射測(cè)試中，遠(yuǎn)場(chǎng)（Far-field）區(qū)域通常是指測(cè)試距離大于天線最大尺寸對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)距離的位置。在電磁兼容（EMC）和天線測(cè)量領(lǐng)域，為了確保測(cè)試結(jié)果能夠反映真實(shí)工作條件下的輻射特性，通常要求測(cè)試距離滿(mǎn)足遠(yuǎn)場(chǎng)條件。遠(yuǎn)場(chǎng)的數(shù)學(xué)定義為：

對(duì)于一個(gè)輻射源（如EUT設(shè)備或天線），當(dāng)測(cè)試接收點(diǎn)與輻射源之間的距離 r 滿(mǎn)足以下條件時(shí)，可以認(rèn)為該接收點(diǎn)位于遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)：

其中

r ≥ 2D2/λ

其中：

• r 是測(cè)試接收天線與輻射源間的距離；

• D 是輻射源的最大物理尺寸；

• λ 是工作頻率對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)。

在這個(gè)距離下，到達(dá)接收天線的電磁波可被視為平面波，且電場(chǎng)和磁場(chǎng)強(qiáng)度之間的相位關(guān)系穩(wěn)定，同時(shí)感應(yīng)場(chǎng)的影響可以忽略不計(jì)。因此，在遠(yuǎn)場(chǎng)條件下進(jìn)行的輻射測(cè)試結(jié)果更具有一致性和代表性。

為什么近場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)差異很大？

近場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)差異較大，主要原因在于：

• 空間非均勻性：在天線的近場(chǎng)區(qū)域（包括感應(yīng)區(qū)和輻射近場(chǎng)區(qū)），電磁場(chǎng)分布是高度非均勻的，這導(dǎo)致了波阻抗（即電磁場(chǎng)比值E/H）隨空間位置的變化而顯著改變。在某些區(qū)域，波阻抗可能與自由空間中的377歐姆相去甚遠(yuǎn)，這種快速波動(dòng)的波阻抗會(huì)導(dǎo)致接收探頭在不同位置采集到的數(shù)據(jù)具有較大的差異。

• 邊緣效應(yīng)：尤其是在天線邊緣附近，由于天線結(jié)構(gòu)的影響以及衍射、反射等現(xiàn)象的存在，波阻抗會(huì)發(fā)生劇烈變化，使得測(cè)得的電場(chǎng)和磁場(chǎng)強(qiáng)度及其相對(duì)相位關(guān)系復(fù)雜多變，從而增加了測(cè)試數(shù)據(jù)的不確定性。

• 極化失真：近場(chǎng)測(cè)量中，隨著距離和角度的變化，入射波的極化狀態(tài)可能發(fā)生改變，這也會(huì)影響波阻抗的值。對(duì)于線性或圓極化天線來(lái)說(shuō)，在近場(chǎng)區(qū)域可能會(huì)出現(xiàn)橢圓極化或者旋轉(zhuǎn)極化，進(jìn)一步加大了測(cè)試結(jié)果的差異。

• 頻率響應(yīng)不均勻：如果天線存在諧振或其他頻域特性問(wèn)題，那么其在近場(chǎng)范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)也會(huì)是非均勻的，這會(huì)反映在波阻抗的變化上，進(jìn)而影響到近場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)的精確度和一致性。

因此，在進(jìn)行近場(chǎng)測(cè)試時(shí)，需要充分考慮到波阻抗的空間變化特性，并采用合適的近場(chǎng)到遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換算法來(lái)處理這些復(fù)雜的變化，以獲得準(zhǔn)確的輻射性能評(píng)估。同時(shí)，合理選擇測(cè)試點(diǎn)布局、精細(xì)化校準(zhǔn)及優(yōu)化測(cè)量方法也是減小近場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)差異的重要手段。

所以，我們?cè)诮鼒?chǎng)測(cè)試中的數(shù)據(jù)，不能確定一個(gè)準(zhǔn)確的值判定在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的3m法、10m法電波暗室中就一定合格。這中間很難找出一個(gè)確定的關(guān)系，特別是在具體的工程經(jīng)驗(yàn)中。我們的在進(jìn)行近場(chǎng)掃描時(shí)，探頭的位置和指向角度的微小變化都可能導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果顯著不同。同時(shí)，探頭與實(shí)驗(yàn)室的天線的校準(zhǔn)系數(shù)完全不一樣，我們很難找出其中的對(duì)應(yīng)關(guān)系的。即使，我們通過(guò)通過(guò)算法將近場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為遠(yuǎn)場(chǎng)輻射數(shù)據(jù)，這一轉(zhuǎn)換過(guò)程中涉及的計(jì)算方法、采樣密度以及邊界條件等因素都會(huì)引入誤差。另外，因?yàn)樘炀€近場(chǎng)區(qū)域受天線邊緣效應(yīng)的影響較大，特別是在短基線上，天線的邊緣衍射和極化失真現(xiàn)象較為明顯，這些都會(huì)造成近場(chǎng)數(shù)據(jù)復(fù)雜且難以解析。

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